因?yàn)閷I(yè)
所以領(lǐng)先
封測(cè)的主要工藝流程:
一、前段
● 晶圓減薄(wafer grinding):剛出場(chǎng)的晶圓(wafer)進(jìn)行背面減薄,達(dá)到封裝需要的厚度。在背面磨片時(shí),要在正面粘貼膠帶來保護(hù)電路區(qū)域。研磨之后,去除膠帶。
● 晶圓切割(wafer Saw):將晶圓粘貼在藍(lán)膜上,再將晶圓切割成一個(gè)個(gè)獨(dú)立的Dice,再對(duì)Dice進(jìn)行清洗。
● 光檢查:檢查是否出現(xiàn)殘次品
● 芯片貼裝(Die Attach):芯片貼裝,銀漿固化(防止氧化),引線焊接。
二、后段
封測(cè)有著安放、固定、密封、保護(hù)芯片和增強(qiáng)電熱性能的作用,而且還是溝通芯片內(nèi)部世界與外部電路的橋梁——芯片上的接點(diǎn)用導(dǎo)線連接到封測(cè)外殼的引腳上,這些引腳又通過印制板上的導(dǎo)線與其他器件建立連接。因此,封測(cè)對(duì)集成電路起著重要的作用。
在完成晶圓制造后, 通過探針與芯片上的焊盤接觸,進(jìn)行芯片功能的測(cè)試,同時(shí)標(biāo)記不合格芯片,并在切割后進(jìn)行篩選。
氣浮平臺(tái),應(yīng)用于晶圓切割 -
探針臺(tái)由載物臺(tái)、光學(xué)元件、卡盤組成,主要承擔(dān)輸送定位任務(wù),使晶圓依次與探針接觸完成測(cè)試,提供晶圓自動(dòng)上下片、找中心、對(duì)準(zhǔn)、定位,及按照設(shè)計(jì)的步距移動(dòng)晶圓以使探針卡上的探針能對(duì)準(zhǔn)硅片相應(yīng)位置進(jìn)行測(cè)試。
載物臺(tái)是定位晶圓或芯片的部件設(shè)備,通常會(huì)根據(jù)晶圓的尺寸來設(shè)計(jì)大小,并配套了相應(yīng)的精密移動(dòng)定位功能。自主研發(fā)的超精密氣浮平臺(tái)是作為載物平臺(tái),重復(fù)定位精度達(dá)±50nm,提供超精密的機(jī)械移動(dòng)定位,以定位晶圓進(jìn)行精密檢測(cè)。
芯片封裝清洗:
合明科技研發(fā)的水基清洗劑配合合適的清洗工藝能為芯片封裝前提供潔凈的界面條件。
水基清洗的工藝和設(shè)備配置選擇對(duì)清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會(huì)作為一個(gè)長(zhǎng)期的使用和運(yùn)行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環(huán)境中的濕氣,通電后發(fā)生電化學(xué)遷移,形成樹枝狀結(jié)構(gòu)體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長(zhǎng)枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內(nèi)的浮點(diǎn)、灰塵、塵埃等,這些污染物會(huì)導(dǎo)致焊點(diǎn)質(zhì)量降低、焊接時(shí)焊點(diǎn)拉尖、產(chǎn)生氣孔、短路等等多種不良現(xiàn)象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關(guān)注的呢?助焊劑或錫膏普遍應(yīng)用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤(rùn)濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質(zhì)在所有污染物中的占據(jù)主導(dǎo),從產(chǎn)品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產(chǎn)品質(zhì)量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質(zhì)引發(fā)接觸電阻增大,嚴(yán)重者導(dǎo)致開路失效,因此焊后必須進(jìn)行嚴(yán)格的清洗,才能保障電路板的質(zhì)量。
合明科技運(yùn)用自身原創(chuàng)的產(chǎn)品技術(shù),滿足芯片封裝工藝制程清洗的高難度技術(shù)要求,打破國(guó)外廠商在行業(yè)中的壟斷地位,為芯片封裝材料全面國(guó)產(chǎn)自主提供強(qiáng)有力的支持。
推薦使用合明科技水基清洗劑產(chǎn)品。